TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
W dniach 6/7.06.2023 odbyły się warsztaty naukowe "Workshop on Nanometrology" dla studentów i doktorantów PWr. Jest to część naszych aktywności w projekcie EU EMPiR MetExSPM, gdzie obok działań ściśle naukowych organizujemy dwa seminaria dla studentów, doktorantów oraz innych badaczy z całego konsorcjum.
W ramach warsztatów odbyły się prelekcje, prezentacje laboratoriów badawczych Katedry Nanometrologii oraz sal i stanowisk dydaktycznych, gdzie prowadzone są zajęcia dla studentów I oraz II stopnia w ramach takich kursów jak: "Półprzewodniki, dielektryki, magnetyki", "Przetwarzanie sygnałów", "Informatyka kwantowa", "Nanodiagnostyka", "Analogowe i cyfrowe układy elektroniczne".
Celem projektu MetExSPM jest opracowanie narzędzi i metod pozwalających na utrzymanie spójności pomiarowej za pomocą szybkich sond mikroskopów bliskich oddziaływań SPM (ang. Scanning Probe Microscopy) z niepewnością 1 nm, oraz charakteryzowanie właściwości funkcjonalnych nanostruktur. Obecnie dostępne szybkie mikroskopy SPM są wszechstronnymi i potężnymi narzędziami do pomiarów w skali submikronowej, ale ich szybkość i niepewność pomiarowa nie spełniają wymagań przemysłu.
W projekt zaangażowani są przedstawiciele czterech europejskich instytucji metrologicznych (VTT, CMI, GUM, PTB), Politechniki Wrocławskiej oraz partnerzy przemysłu Carl Zeiss SMT, Nano Analytik (NA) i Physik Instrumente (PI).
Mikroskopy SPM, a w szczególności AFM (ang. Atomic Force Microsopy) mogą być z powodzeniem stosowane w identyfikacji m.in. wad nanoproduktów w zaawansowanych procesach produkcyjnych, co może pozwolić na zwiększenie produktywności i zmniejszenie strat, w takich gałęziach przemysłu jak nanoelektronika, budowa maszyn itp. Przyszłe innowacje w nanotechnologiach i nanonauce zależą od postępów w nanometrologii, m.in. z wdrożenia HS-SPM (ang. High Speed - SPM). Rozwiązania opracowane w ramach niniejszego projektu, a ukierunkowane na budowę HS-SPM będą mogły być bezpośrednio wdrażane w zastosowaniach przemysłowych. Szczególną grupą potencjalnych odbiorców są producenci mikroskopów SPM. Będą oni mogli wykorzystywać opracowane rozwiązania w swoich przyrządach, dzięki czemu aparatura będzie mogła pracować z większą dokładnością, a NMI (ang. National Metrology Institutes) będą dysponowały udoskonalonymi narzędziami badawczymi oferowanymi również w ramach usług pomiarowych dla użytkowników końcowych.
Koordynatorem projektu jest: Virpi Korpelainen (MIKES).
Wideorelacja dostępna jest tutaj.
