TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.

Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.

Katedra Nanometrologii

Pracownicy

Kierownik Katedry:

prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk

 

Zastępca Kierownika Katedry:

dr hab. inż. Tomasz Piasecki, prof. uczelni

 

Pracownicy:

dr hab. inż. Damian Pucicki, prof. uczelni

dr hab. inż. Jarosław Serafińczuk, prof. uczelni

dr hab. inż. Andrzej Sikora, prof. uczelni

dr inż. Urszula Nawrot

dr inż. Marcin Palewicz

dr inż. Łukasz Pawlaczyk

dr inż. Piotr Putek

dr inż. Piotr Smagowski

dr inż. Krzysztof Gajewski

dr inż. Krzysztof Kwoka

mgr inż. Dominik Badura

mgr inż. Piotr Kunicki

Doktoranci:

mgr inż. Ewelina Gacka

mgr inż. Paulina Grabarczyk

mgr inż. Adrianna Piejko

mgr inż. Bartosz Pruchnik

mgr inż. Konrad Król

mgr inż. Julia Pruchnik

mgr inż. Piotr Sobieraj

mgr inż. Władysław Kopczyński

mgr inż. Kamila Nowak

Politechnika Wrocławska © 2024