Prof. dr hab. inż. Teodor Paweł Gotszalk, członek korespondent PAN. Jego dokonaniem i ambicją jest uformowanie i prowadzenie Polskiej Szkoły Nanometrologii, której specjalnością są pomiary mikro- i nanosystemów oraz nanopomiary za pomocą tychże. 

Syn Krystyny i Ryszarda Gotszalków, mąż Magdaleny Cisek-Gotszalk, ojciec Anny Kotowskiej, wuj Marty Leśniak. 

Stypendysta Deutscher Akademischer Austauschdienst (DAAD) (łącznie 30 miesięcy), Komisji Fulbrighta (4 miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Albany, College of Nanoscience and Engineering – CNSE – w 2010 roku) i Fundacji Kościuszkowskiej (3 miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Berkeley w 2022 roku). Pracował w laboratoriach badawczo rozwojowych koncernu SIEMENS (łącznie 6 miesięcy), National Physical Laboratory (NPL) w Wlk. Brytanii (łącznie 3 miesiące) i Instytucie Badań Materiałowych EMPA w Thun w Szwajcarii (łącznie 1 miesiąc). 

Laureat programów Fundacji na Rzecz Nauki Polskiej (FNP) (stypendium krajowe w 1997 roku, program TECHNE, program TEAM, stypendium profesorskie MISTRZ) oraz licznych grantów KBN, NCN i NCBiR; członek inicjatyw COST. 

Zainteresowania naukowe obejmują: 

• Nanotechnologię 

• Nanometrologię 

• Mikroskopię bliskich oddziaływań (SPM) 

• Mikroskopię elektronową ze zogniskowaną wiązką jonów (SEM/FIB) 

• Nanometrologiczne zastosowania mikrosystemów elektromechanicznych (MEMS)