TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
Poprzednie wpisy dostępne pod: https://wzn.pwr.edu.pl/publikacje
Data: 04.03.2025
Gratulujemy prof. Jarosławowi Serafinczukowi oraz innym współautorom opublikowania pracy "Linear Dichroism of the Optical Properties of SnS and SnSe Van der Waals Crystals" wydanej w czasopiśmie Small.więcej
Data: 25.02.2025
Gratulujemy zespołowi w składzie: Piotr Smagowski, Tomasz Piasecki, Maciej Rudek opublikowania pracy "Miniaturized Transformer Bridge Setup for Scanning Thermal Microscopy Applications" wydanej w czasopiśmie IEEE Transactions on Instrumentation...więcej
Data: 20.12.2024
Gratulujemy prof. Andrzejowi Sikorze i współautorom opublikowania pracy "Reconstruction of the Passive Layer of AISI 304 and 316 Steel After Scratching" w czasopiśmie Materials (IF: 3,1).więcej
Data: 04.11.2024
Gratulujemy prof. Andrzejowi Sikorze i Jakubowi Totczykowi opublikowania pracy "Fiber optics vibration sensor with selftest functionality" w czasopiśmie Przegląd Elektrotechniczny (IF: 1,1).więcej
Data: 31.10.2024
Gratulujemy prof. Andrzejowi Sikorze oraz innym współautorom opublikowania pracy "Highly Conductive Paths in Diamond and their Application in High Pressure Measurements".więcej
Data: 23.10.2024
Gratulujemy Bartoszowi Pruchnikowi oraz innym współautorom opublikowania pracy "New design of operational MEMS bridges for measurements of properties of FEBID-based nanostructures".więcej
Data: 04.09.2024
Gratulujemy zespołowi w składzie: A. Sikora, K. Gajewski, D. Badura, B. Pruchnik, T. Piasecki, K. Raczkowski oraz T. Gotszalk opublikowania pracy wydanej w czasopiśmie Sensors (IF 3,4).więcej
Data: 01.05.2024
Gratulujemy Ewelinie Gackiej i pozostałym współautorom opublikowania pracy „Fabrication of focused ion beam-deposited nanowire probes for conductive atomic force microscopy” wydanej w czasopiśmie Measurement(IF 5,3).więcej
Data: 23.04.2024
Gratulujemy prof. Andrzejowi Sikorze i współautorom opublikowania pracy „The Implementation of AFM-Based Nanoscale Diagnostic Methods in the Investigation of the Degradation Process of Bacteriostatic Acrylic Film with Silver Nanoparticles”.więcej