TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.

Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.

Katedra Nanometrologii

Secundus 2005 - nagrodzeni z Katedry Nanometrologii

Data: 13.05.2025

W tegorocznej (szóstej) edycji programu Secundus wyróżnionych zostało dwoje młodych naukowców z Katedry Nanometrologii. Nagrodzeni – mgr inż. Ewelina Gacka i dr inż. Bartosz Pruchnik – zdobyli największą liczbę punktów publikacyjnych wśród pracowników niesamodzielnych, a młodszych niż 40 lat. Gratulujemy! Poniżej prezentujemy zeszłoroczny dorobek nagrodzonych.

Dorobek mgr inż. Eweliny Gackiej:

  1. Bartosz Cz. Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Ewelina Gacka, Dominik Badura, Piotr M. Kunicki, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk. New design of operational MEMS bridges for measurements of properties of FEBID-based nanostructures. Beilstein Journal of Nanotechnology. 2024, vol. 15, s. 1273-1282.
  2. Ewelina Gacka, Bartosz Cz. Pruchnik, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Dominik Badura, Ivo Rangelow, Teodor Gotszalk. Fabrication of focused ion beam-deposited nanowire probes for conductive atomic force microscopy. Measurement (London). 2024, vol. 234, art. 114815, s. 1-7.
  3. Bartosz Cz. Pruchnik, Janusz Fidelus, Ewelina Gacka, Krystyna Mika, Leszek Zaraska, Grzegorz D. Sulka, Teodor Gotszalk. Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires. Ultramicroscopy. 2024, vol. 263, art. 113985, s. 1-15.
  4. Bartosz Cz. Pruchnik, Tomasz Piasecki, Ewelina Gacka, Mateus G. Masteghin, David Cox, Teodor Gotszalk. Improvement of MEMS thermomechanical actuation efficiency by focused ion beam-induced deposition. Journal of Microelectromechanical Systems. 2024, vol. 33, nr 3, s. 362-368.
  5. Tomasz Piasecki, Krzysztof Kwoka, Ewelina Gacka, Piotr M. Kunicki, Teodor Gotszalk. Electrical, thermal and noise properties of platinum-carbon free-standing nanowires designed as nanoscale resistive thermal devices. Nanotechnology. 2024, vol. 35, art. 115502, s. 1-11.

 

Dorobek dra inż. Bartosza Pruchnika

  1. Bartosz Cz. Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Ewelina Gacka, Dominik Badura, Piotr M. Kunicki, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk. New design of operational MEMS bridges for measurements of properties of FEBID-based nanostructures. Beilstein Journal of Nanotechnology. 2024, vol. 15, s. 1273-1282.
  2. Andrzej Sikora, Krzysztof R. Gajewski, Dominik Badura, Bartosz Cz. Pruchnik, Tomasz Piasecki, Kamil Raczkowski, Teodor Gotszalk. Conductive Atomic Force Microscopy—ultralow-current measurement systems for nanoscale imaging of a surface’s electrical properties. Sensors. 2024, vol. 24, nr 17, art. 5649, s. 1-13.
  3. Ewelina Gacka, Bartosz Cz. Pruchnik, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Dominik Badura, Ivo Rangelow, Teodor Gotszalk. Fabrication of focused ion beam-deposited nanowire probes for conductive atomic force microscopy. Measurement (London). 2024, vol. 234, art. 114815, s. 1-7.
  4. Bartosz Cz. Pruchnik, Janusz Fidelus, Ewelina Gacka, Krystyna Mika, Leszek Zaraska, Grzegorz D. Sulka, Teodor Gotszalk. Atomic force microscopy in mechanical measurements of single nanowires. Ultramicroscopy. 2024, vol. 263, art. 113985, s. 1-15.
  5. Bartosz Cz. Pruchnik, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Tomasz Piasecki, Wiktor Połacik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk. Transformer bridge-based metrological unit for scanning thermal microscopy with resistive nanoprobes. Measurement Science & Technology. 2024, vol. 35, nr 8, art. 085901, s. 1-9.
  6. Bartosz Cz. Pruchnik, Andrzej Sikora, Krzysztof R. Gajewski, Bartosz Świadkowski, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Krzysztof Kwoka, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk. Educational scanning tunneling microscope – open architecture platform for nanotechnology teaching and nanometrology research. Przegląd Elektrotechniczny. 2024, R. 100, nr 6, s. 200-204.
  7. Bartosz Cz. Pruchnik, Tomasz Piasecki, Ewelina Gacka, Mateus G. Masteghin, David Cox, Teodor Gotszalk. Improvement of MEMS thermomechanical actuation efficiency by focused ion beam-induced deposition. Journal of Microelectromechanical Systems. 2024, vol. 33, nr 3, s. 362-368.
  8. Bartosz Cz. Pruchnik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk. Wavelet-based information theory in quantitative assessment of AFM images’ quality. Scientific Reports. 2024, vol. 14, art. 3996, s. 1-13.
  9. Julia Pruchnik, Tomasz Piasecki, Bartosz Cz. Pruchnik, Piotr Prokaryn, Rafał Dobrowolski, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk. QEchemMEMS – a working electrode with high-resolution temperature sensing for studying electrochemical heat management systems. Sensors and Actuators. A, Physical. 2024, vol. 366, art. 114994, s. 1-8.

Galeria zdjęć

Politechnika Wrocławska © 2025