TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.

Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.

Katedra Nanometrologii

110. Zebranie Katedry Nanometrologii

Data: 21.09.2023

Wpis może zawierać nieaktualne dane.

Zapraszamy na zebranie Katedry Nanometrologii, które odbędzie się w dniu 21.09.2023 o godzinie 12:15 310 C2.

Podczas spotkania prezentacje wygłoszą:

1. Jonathan Ehrmann (TU Ilmenau, Germany, Erasmus student at WUST),
Using Parametric Resonances to Improve AFM“ (Jonathan Ehrmann)

2. Sam Davidge (TU Ilmenau, Germany, Erasmus student at WUST), Active
Scanning Probes with Diamond Tips for Quantum Metrology and Nanofabrication

Politechnika Wrocławska © 2024