TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
Zapraszamy na zebranie Katedry Nanometrologii, które odbędzie się w dniu 08.11.2024 o godzinie 10:15 na platformie Zoom.
Podczas spotkania prezentacje na temat "Challenges of epitaxy for Atomic Force Microscopy metrology standards production" wygłosi dr. hab. inż. Damian Pucicki