TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.

Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.

Katedra Nanometrologii

Dr inż. Marcin Palewicz na Uniwersytecie Nagoya, Japonia

Data: 08.01.2025

W dniach 16.11 - 30.11.2024, dr inż. Marcin Palewicz przebywał na Uniwersytecie w Nagoya (Japonia) w ramach realizacji międzynarodowego projektu ENSIGN. Podczas pobytu brał udział m.in. w badaniach właściwości mechanicznych warstw, wykonanych z mieszanin polimerów donorowych i materiałów akceptorowych, technikami mikroskopii sił atomowych. Zaprezentował także przed pracownikami aktywności oraz potencjał badawczy zespołu Katedry Nanometrologii w zakresie pomiarów elektrycznych wykonywanych w skali makro (pomiary: spektroskopii impedancyjnej, fotowoltaiczne) mikro i nano (pomiary: Mikroskopia sił z sondą Kelvina (KPFM), przewodząca mikroskopia sił atomowych (c-AFM)) urządzeń fotowoltaicznych.

Galeria zdjęć

Politechnika Wrocławska © 2025