TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
W dniach 10-12.10.2023 w Helsinkach odbyła się międzynarodowa konferencja Nanoscale 2023, podczas której przedstawiciele Katedry Nanometrologii:
- prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk
- dr hab. inż. Andrzej Sikora
- mgr inż. Dominik Badura
zaprezentowali wyniki badań w ramach następujących prezentacji;
- Application of active piezoresistive cantilevers in high-eigenmode surface imaging *
- Surface measurements using Omega type active piezoresistive SPM cantilevers *
- Precise sample tilt reduction system for advanced AFM modes
* Wyniki uzyskane w ramach realizacji projektu MetexSPM.
