TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
W dniach 28 listopada - 2 grudnia 2023, pracownicy Katedry Nanometrologii z studenci-członkowie SSN SPENT, wzięli udział w jednej z najważniejszej i najbardziej rozpoznawalnej krajowej konferencji poświęconej badaniom z wykorzystaniem mikroskopii sił atomowych i mikroskopii tunelowej "XII Workshop on Applications of Scanning Probe Microscopy – STM/AFM 2023" w Zakopanem, prezentując 26 posterów oraz dwa wykłady:
Wykłady:
1. Novel cantilever MEMS technologies for scanning probe microscopy nanometrology
Bartosz Pruchnik, Dominik Badura, Ewelina Gacka, Damian Pucicki, Andrzej Sikora, Tomasz Piasecki, Bartosz Świadkowski, Tomasz Dąbrowa, Ivo Rangełow, Tito Busani, Andrew Yacoot, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Teodor Gotszalk
2. Identification of electrical properties of third/fourth generation solar cells in nano-, micro- and macroscale.
Marcin Palewicz, Tomasz Piasecki, Andrzej Sikora, Ewelina Gacka , Teodor Gotszalk, Bożena Jarząbek, Paweł Nitschke, Paweł Gnida, Marek Lipiński, Sylwester Sahayaraj, Zbigniew Starowicz
Postery:
1. Concept of multiprobe nanoscopic robot station
Władysław Kopczyński, Dominik Badura, Teodor Gotszalk
2.Fabry-Perot optical fiber interferometer for scanning probe microscopy applications
Wojciech Godlewski, Bartosz Światkowski, Dominik Badura, Teodor Gotszalk
3. Architecture and control of the “scanning probe” type atomic force microscope system
Paweł Darasz-Mól, Dominik Badura, Bartosz Pruchnik, Ivo W. Rangelow, Andrew Yacoot, Teodor Gotszalk
4. High Resolution Optical Beam Deflection Measurement Heads for Scanning Probe Microscopy Investigations
Bartosz Pruchnik, Wiktor Połacik, Dominik Badura, Bartosz Świadkowski, Wojciech Majstrzyk, Krzysztof Gajewski, Maciej Rudek, Teodor Gotszalk
5. Novel MEMS solutions for scanning probe microscopy technologies
Paweł Janus, Andrzej Sierakowski, Piotr Prokaryn, Rafał Dobrowolski, Bartosz Pruchnik
6. ArmScanner-Novel software for signal acquisition and control of a scanning probe microscope
Krzysztof Gajewski, Maciej Rudek, Andrzej Dzierka, Bartosz Świadkowski, Dominik Badura, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk
7. Novel scanning probe technologies for dentistry
Tomasz Dąbrowa, Dominik Badura, Bartosz Pruchnik, Teodor Gotszalk
8. 3D-Printed Scanning Probe Microscope
Maciej Rudek, Krzysztof Gajewski, Teodor Gotszalk
9. Electromagnetic cantilever arrays in molecular interactions metrology
W. Majstrzyk, P. Kunicki, K. Orłowska, A. Sierakowski, P. Niedziałkowski, T. Ossowski, T. Gotszalk
10. Investigation of liposomes nanostructure as biological membrana models using AFM
Anita Dudek, Paulina Strugała-Danak, Natalia Szulc, Bartosz Pruchnik, Teodor Gotszalk, Hanna Pruchnik
11. The AFM investigation of light exposure caused morphological changes of selected photoresists
Andrzej Sikora, Paweł Janus, Andrzej Sierakowski
12. Educational scanning tunneling microscope for nanodiagnostics teaching
Andrzej Sikora, Bartosz Świadkowski, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk
13. Investigations of thermal properties of GaN/AlGaN multilayer nanostructure using novel transformer bridge circuitry
Wiktor Połacik, Bartosz Pruchnik, Piotr Smagowski, Dominik Badura, Damian Pucicki, Wojciech Olszewski, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk, Łukasz Pawlaczyk, Daniel Dusza
14. Metrological SPM controller-ARMScope-II
Tomasz Piasecki, Bartosz Świadkowski, Maciej Rudek, Andrzej Dzierka, Krzysztof Gajewski, Bartosz Pruchnik, Teodor Gotszalk
15. Mechanical investigations and Kelvin probe force microscopy of ultrathin membranes of MoSSe alloy
A. Piejko, M. Tamulewicz-Szwajkowska, K. Król, K. Ciesiołkiewicz, J. Serafińczuk, R. Kudrawiec, T. Gotszalk
16. EMPIR MetSPMexp technologies-solutions and challenges
Dominik Badura, Bartosz Pruchnik, Paweł Darasz – Mól, Teodor Gotszalk
17. Atomic force microscopy investigations of beta-amyloid controlled fibrillization
Bartosz Pruchnik, Andrzej Sikora, Wiktor Połacik, Krzysztof Gołąb, Bogusława Konopska, Teodor Gotszalk
18. Nanoscopic SPM investigations of FEBID and FIBID halo effect
Ewelina Gacka, Bartosz Pruchnik, Adrianna Piejko, Magdalena Tamulewicz-Szwajkowska, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk
19. Entirely FIB-made GaN/AlGaN round-HEMT
Kamila Nowak, Damian Pucicki, Ewelina Gacka, Bartosz Pruchnik, Krzysztof Kwoka, Wojciech Olszewski, Teodor Gotszalk, Detlef Hommel
20. Defect free GaN whisker probes for scanning probe microscopy
Ewelina Gacka, Damian Pucicki Krzysztof Gajewski, Piotr Kunicki, Paulina Ciechanowicz, Paulina Łysik, Teodor Gotszalk, Detlef Hommel
21. Conductive atomic force microscopy based surface nanometrology
Krzysztof Gajewski, Dominik Badura, Daryna Bulavka, Jacek Pawlak, Michał Pawłowski, Tomasz Piasecki, Teodor Gotszalk
22. Conductive super sharp tip scanning probe microscopy technologies
Dominik Badura, Bartosz Pruchnik, Teodor Gotszalk
23. Precise sample tilt reduction system for advanced AFM modes and the multi-angle scanning procedures
Andrzej Sikora
24. Information theory based quantitative assessment of AFM images
Bartosz Pruchnik, Piotr Putek, Teodor Gotszalk
25. Haptic SPM Technologies
Bartosz Świadkowski, Teodor Gotszalk
26. Detectors of SPM cantilever deflection based on field emission phenomenon
Ewelina Gacka, Krzysztof Kwoka, Andrzej Sierakowski, Paweł Janus, Gregor Hlawacek, Teodor Gotszalk
27. A novel method of mechanical measurement of single nanowires on specialized substrates using the AFM method
Bartosz Pruchnik, Janusz Fidelus, Ewelina Gacka, Krystyna Mika, Leszek Zaraska, Grzegorz Sulka, Andrzej Sierakowski, Teodor Gotszalk
Wykładom, prezentacjom posterowym i dyskusjo w kuluarach towarzyszyły takie wydarzenia integracyjne, jak wyprawa na Kasprowy Wierch, oraz uroczysta kolacja.
