TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
W dniach 23-25.04.2025, podczas SPM Workshop 2025 w Lednice (Czechy) pracownicy Katedry Nanometrologii zaprezentowali wyniki swoich badań.
- Teodor Gotszalk “Metrology with MEMS devices”
- Bartosz Pruchnik “Higher eigenmode actuation of active piezoresistive cantilevers for surface metrology”
- Władysław Kopczyński “Active piezoresistive cantilevers in nanorobotics”
- Dominik Badura „Scanning probe microscope with active piezoresistive cantilever for versatile metrology”
Link do strony wydarzenia dostępny jest tutaj.
