TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.

Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.

Katedra Nanometrologii

Nowa technika pomiarowa SPM

Data: 01.04.2025

Mikroskopia sił atomowych jest techniką diagnostyczną której intensywny rozwój obserwujemy już od trzech dekad. Postępy w we współczesnej elektronice i informatyce otwierają perspektywy implementacji kolejnych rozwiązań, które pozwalają na odkrywanie dotychczas niedostępnych tajemnic mikro- i nanoświata. Obszar ten jest szczególnie intensywnie eksplorowany przez pracowników naukowych Katedry Nanometrologii.

Zaimplementowane ostatnio rozwiązanie wykorzystujące bezpośrednie sterowanie sondą skanującą przez algorytmy AI, pozwala na uzyskanie dodatniego sprzężenia zwrotnego między próbką a sondą skanującą. Skutkuje to wzajemną wymianą energii. Ponieważ energia ta, dzięki dobranym przez sztuczną inteligencję parametrom oscylacji ostrza skanującego przypominające łaskotanie, sukcesywnie rośnie, skutkuje to w określonych sytuacjach dość specyficzną reakcją próbki, co jak widać ma załączonym zdjęciu, potwierdza skuteczność opracowanej techniki.

- Ze względu na specyficzne zachowanie energii objawiające się stałym zwiększaniem wartości, roboczo nazwałem ją Energią Pozytywną. – mówi dr A. Skaner.

- Planujemy wyniki tych badań opublikować jeszcze w tym roku – dodaje profesor Procesor. - Widzimy, że powierzchnia bardzo ciekawie reaguje na działanie Pozytywnej Energii. Chcemy na podstawie tego eksperymentu zbudować nanogenerator mocy, ale mamy nadzieję że obszary jej praktycznego zastosowania będą wykraczały poza nanotechnologię.

Galeria zdjęć

Politechnika Wrocławska © 2025