TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
W dniach 30-31 października, Katedra Nanometrologii gościła przedstawicieli z Uniwersytetu Technicznego w Ilmenau. Podczas seminarium które miało miejsce 30 października, wygłoszone zostały następujące referaty:
1. prof. Thomas Fröhlich (Ilmenau University of Technology) - Metrology - actual issues
2. prof. Thomas Sattel (Ilmenau University of Technology) - Mechatronics today, trends and perspectives
3. prof. Ivo W. Rangelow (Ilmenau University of Technology/ NanoAnalytik GmbH) - Single electron devices
4. mgr inż. Bartosz Pruchnik et al. - Metrology and application of the active cantilevers
5. dr Piotr Putek et al. - Uncertainty quantification for design optimization of active cantilever
Goście mieli również okazję zaprezentować obszary swojej aktywności naukowej studentom II roku na kierunku Inteligentna Elektronika.
