Wspomnienie ś.p. prof. dra hab. inż. Teodora Pawła Gotszalka
Długoletniego pracownika Wydziału Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów Politechniki
 Wrocławskiej

Kierownika Katedry Nanometrologii

     Prof. dr hab. inż. Teodor Paweł Gotszalk urodził się 20.06.1966 r. we Wrocławiu. Studia ukończył w 1989 roku na Wydziale Elektroniki (Systemy Automatyzacji) oraz w 1991 roku na Wydziale Elektrycznym (Metrologia Elektryczna) Politechniki Wrocławskiej. Od 1991 roku był doktorantem w Instytucie Technologii Elektronowej PWr. Doktorat obronił w 1996 roku. Od 1.03.1997 roku był zatrudniony w ITE PWr na stanowisku adiunkta naukowo-dydaktycznego, następnie jako adiunkt w Katedrze Elektroniki Ciała Stałego Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki PWr. Stopień doktora habilitowanego uzyskał w grudniu 2005 roku. W 2008 roku objął stanowisko profesora nadzwyczajnego PWr. W 2012 roku uzyskał tytuł profesora nauk technicznych, a w 2015 roku profesora zwyczajnego. 

     Od 2022 roku członek korespondent Polskiej Akademii Nauk.

     Wieloletni kierownik Wydziałowego Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur, który to w 2006 roku przekształcił się w Katedrę Nanometrologii.

     W kadencji 2020-2024 był członkiem Senatu Politechniki Wrocławskiej i członkiem Senackiej Komisji ds. Nauki i Współpracy. 

     Prof dr hab. inż. Teodor Gotszalk był ekspertem w zakresie nanometrologii, w szczególności w zakresie technik mikroskopii bliskich oddziaływań, skaningowej mikroskopii elektronowej i technik zogniskowanych wiązek jonów. Specjalista w badaniach z wykorzystaniem urządzeń mikroelektromechanicznych (microelectromechanical systems, MEMS). Autor ponad 240 publikacji w renomowanych czasopismach, cytowanych łącznie niemal 3000 razy. Był także promotorem 19 zamkniętych przewodów doktorskich.

     Został nagrodzony przez Fundację na rzecz Nauki Polskiej (1997 r.), koncern Siemensa Nagrodą Promocyjną za rozprawę doktorską (2000 r.), Wydział IV Nauk Technicznych Polskiej Akademii Nauk za najlepszą habilitację młodych pracowników naukowych (2007 r.). Wielokrotnie otrzymywał nagrody Rektora, Dziekana i Dyrektora Instytutu za swoją pracę na rzecz Uczelni. W 2008 roku otrzymał Złotą Odznakę Politechniki Wrocławskiej, a w 2011 roku Medal Srebrny za Długoletnią Służbę.

     Za szczególne zasługi dla oświaty i wychowania w roku 2019 został odznaczony Medalem Komisji Edukacji Narodowej.

     W roku 2023 otrzymał także odznakę Zasłużony dla Politechniki Łódzkiej.

     Stworzona w Katedrze Nanometrologii platforma mikroskopów bliskich oddziaływań Drobnowidz została wyróżniona w programie Nagroda Politechniki Wrocławskiej im. Nikoli Tesli w 2024 roku.

     Pełnił rolę recenzenta paneli eksperckich w europejskich programach metrologicznych European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR), programach Unii Europejskiej (6,7 Programach Ramowych) oraz w programie Horyzont 2020, Europejskiej Fundacji Naukowej ( European Science Foundation-ESF), Europejskiej Rady Naukowej (European Research Councli-ERC), i Narodowego Centrum Nauki (NCN).

     Recenzował 17 rozpraw doktorskich (7 w Niemczech (Uniwesytet Techniczny w Ilmenau), 1 w Australii (Uniwersytet w Perth), 1 w Wielkiej Brytanii (Imperial College w Londynie), 1 w Szwajcarii (EPFL w Lozannie), 5 w ośrodkach krajowych). W latach 2010 – 2021 wygłosił 21 zaproszonych wykładów w ośrodkach zagranicznych m.in. Uniwersytety w Princeton, CNSE Albany i Los Angeles, (USA), IBM Yorktown Heights (USA), NIST (USA), NPL (Wlk. Brytania), Imperial College (Wlk. Brytania), EMPA Thun (Szwajcaria), Uniwersytet w Ilmenau (Niemcy), Uniwersytet w Pawii (Włochy), Uniwersytet w Singapurze.

     Prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk był opiekunem Studenckiego Stowarzyszenia Naukowego Polskich Entuzjastów Nanotechnologii (SPENT).

     Otrzymał stypendia Deutscher Akademischer Austauschdienst (DAAD) (łącznie 30 miesięcy), Komisji Fulbrighta (4-miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Albany, College of Nanoscience and Engineering (CNSE) w 2010 roku) i Fundacji Kościuszkowskiej (3-miesięczny pobyt na Uniwersytecie w Berkeley w 2022 roku). Pracował w laboratoriach badawczo rozwojowych koncernu Siemens (łącznie 6 miesięcy), National Physical Laboratory (NPL) w Wlk. Brytanii (łącznie 3 miesiące) i Instytucie Badań Materiałowych EMPA w Thun w Szwajcarii (łącznie 1 miesiąc).

     Laureat programów Fundacji na Rzecz Nauki Polskiej (FNP) (stypendium krajowe w 1997 roku, program TECHNE, program TEAM, stypendium profesorskie MISTRZ). Dodatkowo:

●    Kierownik 3 projektów własnych i 4 projektów promotorskich Komitetu Badań Naukowych (KBN)

●    Kierownik 3 grantów OPUS NCN

●    Opiekun naukowy 3 grantów OPUS PRELUDIUM

●    Kierownik 2 grantów badawczych z 6 Programu Ramowego Badań UE (STREP TASNANO oraz IP PRONANO) oraz 1 z 7 Programu Ramowego (STREP NanoHeat)

●     Kierownik 2 grantów badawczych w programu metrologicznego EMPIR (EMPIR NanoWires i EMPIR MetExSPM)

●     Koordynator krajowy projektu COST Action: Focused Ion Technology for Nanomaterials-FIT4NANO

●    Kierownik projektu UE EURIPIDES Komercyjna dostępna technologia dźwigni ze zintegrowanymi detektorami ugięcia dla mikroskopii bliskich oddziaływań.