Dniach 30 listopada - 4 grudnia, w Zakopanem miało miejsce XI Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2022. W ramach tego wydarzenia zaprezentowano wyniki prac badawczych realizowanych w Katedrze Nanometrologii:

• Bartosz Pruchnik, „Ostrza przeznaczone do przewodzącej mikroskopii siła atomowych wytwarzane metodą osadzania wspomaganego zogniskowaną wiązką elektronów i jonów” – prezentacja ustna
• Ewelina Gacka, „Zastosowanie mikroskopii elektronowej i jonowej do wytwarzania ostrzy stosowanych w mikroskopii bliskich oddziaływań” – prezentacja ustna
• Bartosz Pruchnik, „Ultramiękkie aktywne dźwignie z azotku krzemu do zaawansowanych trybów mikroskopii bliskich oddziaływań” – prezentacja posterowa
• Andrzej Sikora, „Wykorzystanie mikroskopii sił atomowych w badaniach wpływu wybranych czynników na powierzchnię stali nierdzewnej” – prezentacja posterowa
• Dominik Badura, „Badania zużycia i wytrzymałości biomateriałów protetycznych za pomocą mikroskopu sił atomowych z aktywną dźwignią piezorezystywną” – prezentacja posterowa
• Dominik Badura, „Pomiar powierzchni technologicznych w warunkach roboczych za pomocą mikroskopu sił atomowych z sondą piezorezystywną” – prezentacja posterowa