TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
Aktualności
Poprzednie wpisy dostępne pod: https://wzn.pwr.edu.pl/aktualnosci
20INS08 MetExSPM M27 project meeting
Data: 13.12.2023
W dniach 12-13.12.2023 w katedrze Nanometrologii zorganizowano spotkanie robocze zespołów badawczych "20INS08 MetExSPM M27 project meeting" zaangażowanych w realizację projektu MetExSPM.więcej
Konferencja STM/AFM 2023
Data: 30.11.2023
Pracownicy Katedry Nanometrologii oraz studenci-członkowie SSN SPENT, wzięli udział w "XII Workshop on Applications of Scanning Probe Microscopy – STM/AFM 2023" w Zakopanem, prezentując 26 posterów oraz dwa wykłady.więcej
Krzysztof Kwoka doktorem nauk technicznych
Data: 30.11.2023
27 listopada 2023 roku Rada Dyscypliny Naukowej Automatyka, Elektronika, Elektrotechnika i Technologie Kosmiczne, podjęła uchwałę, w wyniku której Krzysztof Kwoka uzyskał stopień naukowy doktora nauk technicznych.więcej
Spotkanie integracyjne w Katedrze Nanometrologii
Data: 22.11.2023
W dniu 20 listopada odbyło się spotkanie integracyjne w Katedrze Nanometrologii na Wydziale Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów. Uczestniczyli w nim pracownicy z rodzinami, aby wspólnie stworzyć różnego rodzaju arcydzieła z gliny.więcej
Noc Politechniki w Katedrze Nanometrologii 2023
Data: 19.11.2023
W dniu 17 listopada nasze laboratoria zostały otwarte dla gości, odwiedzających kampus w ramach Nocy Politechniki.więcej
115. Zebranie Katedry Nanometrologii
Data: 16.11.2023
W dniu 16.11.2023 o godzinie 13:15 odbyło się zebranie Katedry Nanometrologii.więcej
114. Zebranie Katedry Nanometrologii
Data: 14.11.2023
W dniu 14 listopada odbyło się 114 Zebranie Katedry Metrologii, w którym udział wzięła dr Dr. Frances Allen (Department of Materials Science and Engineering, University of California at Berkeley)więcej
Prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk - otrzymał odznakę Zasłużony dla Politechniki Łódzkiej
Data: 13.11.2023
Prof. dr hab. inż. Teodor Gotszalk, Kierownik Katedry Nanometrologii został nagrodzony odznaką „Zasłużony dla Politechniki Łódzkiej”.więcej
Wizyta gości z Uniwersytetu Technicznego w Ilmenau
Data: 31.10.2023
W dniach 30-31 października, gośćmi Katedry Nanometrologii byli: prof. Thomas Fröhlich, prof. Thomas Sattel oraz prof. Ivo W. Rangelow z Ilmenau Univeristy of Technology. W ramach wizyty wygłosili oni referaty na temat swoich badań.więcej
Prezentacja SSN SPENT
Data: 31.10.2023
W dniu 27 października członkowie SSN SPENT prezentowali na Wydziale Elektroniki, Fotoniki i Mikrosystemów, obszary aktywności oraz możliwości podejmowania współpracy w ramach różnorodnych tematów realizowanych przez Stowarzyszenie.więcej